Fotogalerie
Termín: 3. a 4. května 2023*
Čas: 09:00 - 16:00
Cena: zdarma (kapacita omezena vzhledem k možnostem našich prezenčních prostor)
Místo: JD Dvořák, Toužimská 897/E3, Praha 18
Řečníci:
- Paul Berenquer, Product Specialist, Sensofar Metrology
- Ing. Jan Matěásko, produktový specialista, JD Dvořák
*Pozor, změna původního termínu. Seminář je jednodenní, je možné zvolit si datum, které Vám lépe vyhovuje.
Fotogalerie
Těšit se můžete na tato témata:
- Detailní pohled na jednotlivé metody 3D optického měření povrchů, jejich porovnání a využití v rámci různých aplikací
- Proužková projekce pro rychlé měření velkých ploch
- Ai Focus Variation pro měření tvaru velkých, drsných povrchů
- Konfokální technologie pro měření hladkých až velmi drsných povrchů s laterálním rozlišením až 140 nm
- Interferometrie pro měření výšky velmi hladkých až středně drsných povrchů s vertikálním rozlišením až 0,01 nm
- Spektroskopická reflektometrie pro měření tloušťky tenkých transparentních vrstev od 50 nm
- Problémy, které se při 3D měření povrchů mohou objevit a jak je řešit
- Patentované technologie a přístupy Sensofar
Fotogalerie
Praktický workshop
Součástí semináře bude workshop, který bude obsahovat:
- představení nejuniverzálnějšího a nejrychlejšího 3D profilovacího mikroskopu Sensofar S neox na trhu
- možnost vyzkoušení systému S neox na vlastních vzorcích
- otevřenou diskuzi na téma problematických prvků při skenování různých typů povrchů, materiálů, složitých vzorků a návrhy jak tyto výzvy řešit
- naše tipy a triky pro měření s komplexním 3D optickým profilometrem
Registrace
Své místo si můžete rezervovat pomocí on-line formuláře, nebo vyplněním off-line formuláře, který je možné stáhnout níže a zaslat na adresu: hana.jirkova@testsysteme.cz.
Kapacita semináře je omezena, proto doporučujeme provést Vaši registraci co nejdříve, nejpozději však do 14. dubna 2023 (upřednostněny budou dříve zaslané registrace). Maximální počet zástupců za jedno oddělení jsou 2 osoby.
Na setkání s Vámi se těší
Týmy JD Dvořák a Sensofar Metrology