In-line konfokální mikroskop
S mart & S onix
S mart nabízí maximální univerzálnost pro přesná povrchová měření. Díky 3 skenovacím technologiím v rámci 1 systému si poradí s každým typem analyzovaného povrchu. S onix koncipovaný pro maximální rychlost. Díky vysokorychlostní kameře a interferometrické metodě snímání (VSI) dokáže skenovat i větší plochy v krátkém čase s nanometrovým rozlišením.
Klíčové vlastnosti
- Patentovaná Microdisplay technologie, vysokorychlostní kamera
- Max. laterální rozlišení 170 nm, max. vertikální rozlišení 1 nm
- Skenovací techniky (Konfokální, Focus Variation, Interferometrie)
- Možnost instalace přímo do výrobní linky, libovolný směr, přenosná varianta
- Odolnost vůči nepříznivým vlivům prostředí
Sensofar S mart & S onix
S mart
S mart - přenosná varianta
S mart - umístění do výrobní linky
S mart - sken povrchu: konfokální metoda
S mart - sken povrchu: metoda Focus Variation
S mart - sken povrchu: interferometrie
S mart - sken povrchu: kov
S onix
S onix - libovolné umístění sensoru
S mart, S onix - obslužný software SensoSCAN
S mart, S onix - měření dle ISO
SDK kit pro vzdálené ovládání a komunikaci
