In-line konfokální mikroskop

S mart & S onix

S mart nabízí maximální univerzálnost pro přesná povrchová měření. Díky   
3 skenovacím technologiím v rámci 1 systému si poradí s každým typem analyzovaného povrchu. 
S onix koncipovaný pro maximální rychlost. Díky vysokorychlostní kameře a interferometrické metodě snímání (VSI) dokáže skenovat i větší plochy v krátkém čase s nanometrovým rozlišením.   

Klíčové vlastnosti
  • Patentovaná „Microdisplay technologie“, vysokorychlostní kamera
  • Max. laterální rozlišení 170 nm, max. vertikální rozlišení 1 nm
  • Skenovací techniky (Konfokální, Focus Variation, Interferometrie)
  • Možnost instalace přímo do výrobní linky, libovolný směr, přenosná varianta
  • Odolnost vůči nepříznivým vlivům prostředí

S mart

S mart - přenosná varianta

S mart - umístění do výrobní linky

S mart - sken povrchu: konfokální metoda

S mart - sken povrchu: metoda Focus Variation

S mart - sken povrchu: interferometrie

S mart - sken povrchu: kov

S onix

S onix - libovolné umístění sensoru

S mart, S onix - obslužný software SensoSCAN

S mart, S onix - měření dle ISO

SDK kit pro vzdálené ovládání a komunikaci